產(chǎn)品詳情
產(chǎn) 品 價(jià) 格: 28500.00元/臺(tái)
聯(lián) 系 方 式: 李祥(先生) 86-0311-80856367
聯(lián) 系 人 :李祥
聯(lián)系電話:18032293265
所在地區(qū):河北/石家莊市
會(huì)員級(jí)別:VIP會(huì)員
企業(yè)類型:有限責(zé)任公司 (生產(chǎn)型)
加工定制 | 是 |
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工作溫度 | -20-50(℃) |
尺寸 | 263-17061(mm) |
重量 | 2(kg) |
適用范圍 | MUT800C是一款便攜式、全數(shù)字化超聲波探傷儀,能夠快速便捷、無損傷、地進(jìn)行工件內(nèi)部多種缺陷( |
測(cè)量范圍 | 0-9999 |
分辨率 | 5P14 |
類型 | 數(shù)字超聲檢測(cè)儀 |
品牌 | 美泰科儀 |
型號(hào) | MUT650c |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | | 可選配置 | ||||
序號(hào) | 名稱 | 數(shù)量 | | 序號(hào) | 名稱 | 數(shù)量 |
1 | FUT880儀器主機(jī) | 1臺(tái) | | 1 | 校準(zhǔn)試塊 JYZ-BXⅠ | 2 |
2 | 專用爬行探頭 | 1只 | | 2 | 探傷儀主機(jī)保護(hù)套 | 1 |
3 | 專用小角度探頭 | 1只 | | 3 | 筆記本電腦 | 1 |
4 | 探頭連接線纜 | 1條 | | 4 | 雙晶橫波探頭 | 1 |
5 | 電池模塊 | 1只 | | 5 | 絕緣子模擬試塊 | 1 |
6 | 電源適配器(充電器) | 2只 | | | ||
7 | 數(shù)據(jù)處理軟件光盤 | 1張 | | | | |
8 | USB通訊線纜 | 1條 | | | | |
9 | 儀器箱 | 1只 | | | | |
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序號(hào) | 飛泰品牌 探頭分類 | 探頭晶片尺寸mm ×mm | 探頭弧面對(duì)應(yīng)直徑(mm) | 適用工件外徑 | 頻率 | 適合間距(mm) | 單價(jià)(元) |
1 | JYZ-1爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ100 | <Φ100 | 2.5P | >15 | 致電 |
2 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ120 | >Φ100 | 2.5P | >15 | |
3 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ140 | >Φ120 | 2.5P | >15 | |
4 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ160 | >Φ140 | 2.5P | >15 | |
5 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ180 | >Φ160 | 2.5P | >15 | |
6 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ200 | >Φ180 | 2.5P | >15 | |
7 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ220 | >Φ200 | 2.5P | >15 | |
8 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ240 | >Φ220 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
9 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ260 | >Φ240 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
10 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ280 | >Φ260 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
11 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ300 | >Φ280 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
12 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ400 | >Φ300 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
13 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ500 | >Φ400 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
14 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | Φ600 | >Φ400 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
15 | 爬波探頭 | 10 ×12×2 | 平面 | >Φ500 | 2.5P | 瓷套探傷專用 | |
16 | JYZ-2爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ100 | <Φ100 | 2.5P | >12 | |
17 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ120 | >Φ100 | 2.5P | >12 | |
18 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ140 | >Φ120 | 2.5P | >12 | |
19 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ160 | >Φ140 | 2.5P | >12 | |
19 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ180 | >Φ160 | 2.5P | >12 | |
20 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ200 | >Φ180 | 2.5P | >12 | |
21 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | Φ220 | >Φ200 | 2.5P | >12 | |
22 | 爬波探頭 | 8 ×10×2 | 平 面 | >Φ220 | 2.5P | >12 | |
23 | JYZ-3爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ100 | <Φ100 | 2.5P | >12 | |
24 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ120 | >Φ100 | 2.5P | >12 | |
25 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ140 | >Φ120 | 2.5P | >12 | |
26 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ160 | >Φ140 | 2.5P | >12 | |
27 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ180 | >Φ160 | 2.5P | >12 | |
28 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ200 | >Φ180 | 2.5P | >12 | |
29 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | Φ220 | >Φ200 | 2.5P | >12 | |
30 | 爬波探頭 | 6 ×10×2 | 平 面 | >Φ220 | 2.5P | >12 | |
31 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ120 6° | >Φ100 | 5P | >12內(nèi)部缺陷專用 | |
32 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ140 6° | >Φ120 | 5P | >12內(nèi)部缺陷專用 | |
33 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ160 6° | >Φ140 | 5P | >12內(nèi)部缺陷專用 | |
34 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ180 6° | >Φ160 | 5P | >12內(nèi)部缺陷專用 | |
35 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ200 6° | >Φ180 | 5P | >12內(nèi)部缺陷專用 | |
36 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | 平 面6° | >Φ200 | 5P | >12內(nèi)部缺陷專用 | |
37 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | Φ180 8° | >100 | 5P | >12內(nèi)部缺陷專用 | |
38 | 小角度縱波探頭 | 8 ×10 | 平 面8° | >Φ200 | 5P | >12內(nèi)部缺陷專用 | |
39 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ160 | >Φ140 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
40 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ180 | >Φ160 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
41 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ200 | >Φ180 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
42 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ220 | >Φ200 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
43 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ240 | >Φ220 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
44 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ260 | >Φ240 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
45 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ280 | >Φ260 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
46 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ300 | >Φ280 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
47 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ400 | >Φ300 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
48 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ500 | >Φ400 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
49 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | Φ600 | >Φ500 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
50 | 雙晶橫波探頭 | 8 ×10×2 | 平 面 | >600 | 5P | 瓷套探傷專用 | |
51 | 縱波直探頭 | Φ10 | 平 面 | | 5P | 聲速測(cè)定用 | |
序號(hào) | 試塊名稱 | 型 號(hào) | 規(guī) 格 | 使用范圍 | | ||
1 | 校準(zhǔn)試塊 | JYZ-BXⅠ | 360°旋轉(zhuǎn)/帶支架 | 支柱絕緣子專用 | | ||
2 | 校準(zhǔn)試塊 | JYZ-BXⅡ | 瓷套專用 | | |||
3 | 瓷柱對(duì)比試塊 | JYZ-G | Φ120瓷柱聲速≥6300m/s | 參考對(duì)比 | | ||
1 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | ≤Φ100-Φ110 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | | ||
2 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | >Φ110-Φ120 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | | ||
3 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | >Φ120-Φ130 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | | ||
4 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | >Φ130-Φ140 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | | ||
5 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | >Φ140-Φ150 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | | ||
6 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | >Φ150-Φ160 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | | ||
7 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | >Φ160-Φ170 | 塊 | 外壁模擬裂紋 | | ||
8 | 瓷支柱絕緣子參考試塊 | >Φ140-Φ160 | 塊 | 內(nèi)部缺陷 | | ||
1 | 瓷套參考試塊 | >Φ160-Φ200 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | | ||
2 | 瓷套參考試塊 | >Φ200-Φ300 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | | ||
3 | 瓷套參考試塊 | >Φ300-Φ400 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | | ||
4 | 瓷套參考試塊 | >Φ400-Φ500 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | | ||
5 | 瓷套參考試塊 | >Φ500-Φ600 | 塊 | 內(nèi)外壁模擬裂紋 | | ||
1 | 探頭連接線 | Q9-C6、C9-C6、C5-C6 | 根 | 或根據(jù)儀器選配 | |