日本三豐Mitutoyo SJ-500P表面粗糙度測量儀

高精度、高性能表面粗糙度測量儀充分利用**分析軟件優(yōu)勢。

特點：

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• 輕松定位使用專用控制器內置的操縱桿，輕松、快速地定位。小孔內側的測量，需要對微小測頭進行微調。利用手動手柄，實現(xiàn)輕松微調。
• 表面粗糙度測量條件的設置簡單易行。利用配備的簡單輸入功能，可按照ISO/JIS粗糙度標準的繪圖指令符號進行輸入。以往非常麻煩的測量條件設置如今可輕松輸入，從菜單上直接選取表面粗糙度的繪圖指令符號即可。

技術參數(shù)：

X 軸 (驅動部)
測量范圍: 50mm

分辨率： 0.05μm

長度基準： 線性編碼器
驅動速度: 0-20mm/s

測量速度： 0.02-5mm/s
移動方向: 向后

直線度： 0.2μm/50mm

定位： ±1.5°（傾角，有DAT功能），30mm（向上/向下）
檢測器
范圍/分辨率: 800μm/0.01μm,80μm/0.001μm,8μm/0.0001μm
檢測方法: 無軌/有軌測量
測力: 4mN 或 0.75mN
測針針尖: 金剛石, 90º / 5μmR(60º / 2μmR)
導頭曲率半徑: 40mm
導頭壓力: 小于 400mN
類型: 差動電感式
尺寸 (WxDxH) 425 x 94 x 160mm
重量
主機： 2.7kg

連接裝置： 3.8kg

評估能力：

適用標準:
JIS' 82, JIS' 94, JIS' 01, ISO, ANSI, VDA
評估輪廓:
P (原始輪廓), R (表面粗糙度曲線), DIN4776, 粗糙度曲線motif
評價參數(shù):
Ra, Ry, Rz, Rt, Rp, Rq, Rv, Sm, S, Pc, R3z, mr (c), Rpk, Rvk,δc, Rk, Mr1, Mr2,

Lo, Ppi, R, AR, Rx, A1, A2, Vo, HSC, mr,SK, Ku, Δa, Δq, Wte, Wx, W, AW (可定制)

Rz1max (ISO),Rmax (VDA, ANSI)
分析圖表: ADC、BAC、功率譜圖
評價曲線 斷面曲線、粗糙度曲線、DF曲線、波紋曲線表面粗糙度MOTIF、波形MOTIF曲線

解析圖表 負荷曲線、振幅分布曲線

曲線補償 拋物線、雙曲線、圓錐、圓、二次曲線、傾斜補償、無補償
濾波類型 2CR, PC75, 高斯
截止波長 lc:0.025, 0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm
ls: 0.25,0.8,2.5, 8, 25,80,250μm 無濾波器

lf:0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm 無濾波器

取樣長度: 0.025,0.08, 0.25, 0.8, 2.5, 8,25mm;

數(shù)據(jù)補償功能: 傾斜補償、R平面（曲面）補償、橢圓補償、拋物線補償、雙曲線補償、二次曲線自動補償、多項式補償、多項式自動補償